2025年12月19日下午，学院于浦口办学点一号楼学科楼310会议室成功举办了第二期“鼎山·芯论坛”。该论坛系列立足于集成电路领域前沿议题，致力于构建高水平学术交流平台，促进学科交叉与技术创新。本期论坛由张吉良院长主持，特邀美国马里兰大学Gang Qu教授（IEEE Fellow）、南洋理工大学Chip Hong Chang教授（IEEE Fellow）以及佛罗里达大学高一鸣博士三位专家进行专题技术分享。

活动开始前，张吉良院长对三位专家学者的到来表示热烈欢迎，并逐一进行介绍。

过程中，Gang Qu教授聚焦后量子密码算法的运算核心——数论变换（NTT）的硬件加速问题。他指出，尽管NTT加速对性能提升至关重要，但其运行过程中泄漏的物理信息可能构成安全“后门”。Gang Qu教授详细剖析了攻击者如何利用这类信息还原关键数据，并评估了现有芯片级安全防护技术的有效性与局限。

随后，Chip Hong Chang教授的报告聚焦名为 “Red Bleed” 的新型攻击手段，揭示了商用近红外人脸识别系统存在的重大安全漏洞。后续相关研究团队借助低成本的自制设备，结合变分自编码器构建的跨光谱生成框架与先进换脸技术，完成修复。

最后，高一鸣博士回顾了两种典型的NTT架构实现方案，对比分析了其优势与不足，进而提出一种将NTT映射至AI加速器的创新实现方法，并介绍了三种创新的技术优化方法。该方案相较于两种传统并行实现方式，有望在性能上取得了显著提升。

在互动交流环节，在场师生积极参与，与三位主讲人展开了深入讨论。专家们结合自身科研实践与工程经验，对提问进行了细致而专业的解答，进一步深化了听众对相关问题的理解。整场报告内容充实、视角前沿，对推动学科交叉融合与相关领域持续创新具有积极意义。

撰稿：高迎雪    编辑：吴中慧   审核：张吉良